Термическая устойчивость тонких пленок антимонии для применения в солнечных элементах

Аннотация

Сурьма (Sb) получила значительное внимание из-за структурного архетипа для различных сульфидных и сульфосольтовых минералов. В этой работе тонкие пленки Sb толщиной ~ 300-400 нм выращивались методом радиочастотного магнетронного распыления, с целью использования их в качестве прекурсора для получения халькогенидных полупроводников и их применении в области солнечных элементов. Было показано влияние температур отжига на структуру осажденных пленок Sb. Тонкие пленки Sb были осаждены на стеклянные подложки и в дальнейшем подвержены отжигу при различных температурах: 300 °C, 400 °C, 500 °C в аргоновой среде. Структурную характеристику пленок проанализировали с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния света,  при использовании двух разных длин волн возбуждения: 532, 632,8 нм.  Были идентифицированы полосы комбинационного рассеяния как симметричных (A_1g), так и несимметричных (E_g) фононов. Измерения спектров пропускания и морфологические исследования пленок показали стабильность отожженных пленок при температурах 400 °С, а результаты спектроскопии комбинационного рассеяния показали их высокую поликристаллическую структуру.