Aimaganbetov, K., & Tokmoldin, N. (2017). Релаксационды спектроскопия әдісімен кремнилі диодтың терең деңгейлі параметрлерін зерттеу. Вестник. Серия Физическая (ВКФ), 62(3), 100–105. извлечено от https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/571