AIMAGANBETOV, K.; TOKMOLDIN, N. Релаксационды спектроскопия әдісімен кремнилі диодтың терең деңгейлі параметрлерін зерттеу. Вестник. Серия Физическая (ВКФ), [S. l.], v. 62, n. 3, p. 100–105, 2017. Disponível em: https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/571. Acesso em: 21 дек. 2024.