K. Aimaganbetov и N. Tokmoldin, «Релаксационды спектроскопия әдісімен кремнилі диодтың терең деңгейлі параметрлерін зерттеу», Rec.Contr.Phys., т. 62, вып. 3, сс. 100–105, сен. 2017.