Aimaganbetov K, Tokmoldin N. Релаксационды спектроскопия әдісімен кремнилі диодтың терең деңгейлі параметрлерін зерттеу. ВКФ [Интернет]. 25 сентябрь 2017 г. [цитируется по 21 декабрь 2024 г.];62(3):100-5. доступно на: https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/571