Гиперспектралды зондтаудың физикалық негіздері

Авторлар

  • Р.М. Уалиева НАО «Торайгыров университет», Павлодар, Казахстан https://orcid.org/0000-0003-3551-5007
  • T.A. Тухфатуллин Алматинский филиал НИЯУ МИФИ, Алматы, Казахстан https://orcid.org/0000-0003-3943-2583
  • Е.Л. Бойцова Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия https://orcid.org/0000-0002-3282-4659
  • М.М. Каверина НАО «Торайгыров университет», Павлодар, Казахстан https://orcid.org/0000-0002-3838-7656

DOI:

10.26577/RCPh20259437

Кілт сөздер:

гиперспектральная камера, дисперсия, интерференция, optical filter

Аңдатпа

Гиперспектрлік технологиялар спектрофотометриялық әдістерді және бейнелеу әдістерін біріктіре отырып, нысаннан шығатын сәулеленудің спектрлік құрамын зерттеуге мүмкіндік береді. Бұл технологиялар ғылым мен техниканың әртүрлі салаларында кеңінен қолданылады. Соңғы жылдары гиперспектралды визуализация әсіресе агрономияда өсімдік ауруларын диагностикалау және биологиялық аномалияларды анықтау үшін белсенді қолданылуда. Бұл зерттеу гиперспектрлік камералардың негізгі түрлерін: дисперсиялық, интерферометриялық және сүзгілік камераларды салыстырмалы талдауға арналған. Олардың сипаттамалары және гиперспектрлік кескіндерді алудың негізінде жатқан физикалық принциптері талданады. Гиперспектрлік камераның оңтайлы түрін таңдау нақты қолдану талаптарына байланысты. Дисперсиялық камералар жоғары тіркеу жылдамдығымен және кең спектрлік ауқымымен ерекшеленсе де, ірі оптикалық компоненттер мен айтарлықтай шығындарды қажет етеді. Интерферометриялық жүйелер жоғары спектрлік сезімталдыққа ие, бірақ олардың қолданылуы жарықтандырудың тұрақтылығына тәуелділікпен шектеледі. Сүзгілік камералар реттеу икемділігін және ықтимал компакттілікті қамтамасыз етсе де, сүзгінің сипаттамаларына байланысты механикалық және спектрлік шектеулерге ие болуы мүмкін. Гиперспектралды камералардың негізгі түрлеріне, олардың негізгі сипаттамалары мен практикалық қолданылу салаларына шолу жасалған.

Автор өмірбаяндары

  • Р.М. Уалиева, НАО «Торайгыров университет», Павлодар, Казахстан

    PhD, профессор, Университет Торайгырова, Павлодар, Казахстан, e-mail: ualiyeva.r@gmail.com

  • T.A. Тухфатуллин, Алматинский филиал НИЯУ МИФИ, Алматы, Казахстан

    автор корреспондент, ғылым кандидаты, доцент, Ұлттық ядролық зерттеу университеті МИФИ Алматы қаласындағы филиалы, Алматы, Қазақстан, e-mail: tta@tpu.ru

  • Е.Л. Бойцова, Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия

    PhD, National Research Tomsk Polytechnic University, Tomsk, Russian Federation, e-mail: boi55@tpu.ru

  • М.М. Каверина , НАО «Торайгыров университет», Павлодар, Казахстан

    Докторант, Университет Торайгырова, Павлодар, Казахстан, e-mail: k.ma96@mail.ru

Жүктеулер

Жарияланды

2024-09-20

Журналдың саны

Бөлім

Condensed Matter Physics and Materials Science Problems. NanoScience

Осы автордың (немесе авторлардың) ең көп оқылатын мақалалары