Исследование нанопорошков металлов методом электронной микроскопии
##doi.readerDisplayName##:
10.26577/rcph-2019-1-1098Кілт сөздер:
Ключевые слова: нанопорошки, электрический взрыв проводников, сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия.Аңдатпа
В работе представлены результаты экспериментов по исследованию нанопорошков металлов методом сканирующей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения и просвечивающей микроскопий. Электронная микроскопия является одним из основных методов изучения наноматериалов позволяющий непосредственно увидеть исследуемые объекты. В сканирующем электронном микроскопе для получения изображения поверхности образца используются вторичные, отраженные и поглощенные электроны. Остальные излучения применяются как дополнительные источники информации. Результаты сканирующей электронной микроскопий показали, что нанокластеры никеля и железа имеют, близка к сферическую форму со средним диаметром 50 и 65 нм, соответственно. Результаты исследований методом просвечивающей электронной микроскопии НП никеля и железа согласуются с результатами, полученными с помощью сканирующей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения. В отличи от НП никеля и железа гистограмма распределения по размерам НП меди имеет бимодальное распределение. Средний диаметр частиц первой и второй фракции равен 23.6 и 81 нм, соответственно. Исследования НП меди методом сканирующей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения и просвечивающей электронной микроскопии показали, что нанокластеры меди обладают четко выраженными кристаллографическими гранями и ребрами.
