Исследование физических особенностей различных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии

Аңдатпа

Сканирующие зондовые микроскопы являются передовым средством получения информации о строении поверхности в размерных областях, где оптические микроскопы уже бессильны. Целью настоящей работы является исследование физических особенностей поверхностей различных материалов с помощью сканирующего зондового микроскопа и выявление корреляции краевого угла смачивания и шероховатости поверхности. Методы, использованные в данной работе: получения изображений поверхностей методами атомно-силовой микроскопии на сканирующем зондовом микроскопе, программная обработка и анализ изображений в программе Nova Px. Результаты исследования данной работы представлены в виде информации о шероховатости поверхности, о свойствах взаимодействия с водой. Анализ краевого угла смачивания может позволить судить о состоянии поверхности, ее шероховатости в условиях отсутствия дорого оборудования. В ходе работы исследовались как калибровочные образцы, так и природные, техногенные и биологические поверхности. Было также установлено, что коэффициент корреляции между полной высотой профиля и краевым углом составляет 0,71, что свидетельствует о наличии устойчивой связи. Полученные данные могут использоваться для прогнозирования гидрофобности по параметрам структуры в наномасштабе.