Физические основы гиперспектрального зондирования

Авторлар

##doi.readerDisplayName##:

https://doi.org/10.26577/RCPh20259437

Кілт сөздер:

гиперспектральная камера, дисперсия, интерференция, optical filter

Аңдатпа

Гиперспектральные технологии объединяют спектрофотометрические методы и методы формирования изображений, что позволяет исследовать спектральный состав излучения, исходящего от объекта. Данные технологии широко используются в различных областях науки и техники. В последние годы особенно активно гиперспектральная визуализация используется в агрономии для диагностики заболеваний растений и выявления биологических аномалий. Данная работа посвящена сравнительному анализу основных типов гиперспектральных камер: дисперсионных, интерферометрических, а также и фильтрующих. Анализируются их характеристики, а также физические принципы, лежащие в основе получения гипреспектральных изображений. Выбор оптимального типа гиперспектральной камеры зависит от конкретных требований приложения. Дисперсионные камеры характеризуются высокой скоростью регистрации и широким спектральным охватом, однако требуют массивных оптических компонентов и значительных затрат. Интерферометрические системы обладают высокой спектральной чувствительностью, но их применение ограничивается зависимостью от стабильности освещения. Фильтрующие камеры обеспечивают гибкость настройки и потенциальную компактность, однако могут иметь механические и спектральные ограничения, обусловленные характеристиками фильтра. В данной работе представлен обзор основных типов гиперспектральных камер, их ключевых характеристик и областей практического применения.

Автор өмірбаяндары

  • Р.М. Уалиева, НАО «Торайгыров университет», Павлодар, Казахстан

    PhD, профессор, Университет Торайгырова, Павлодар, Казахстан, e-mail: ualiyeva.r@gmail.com

  • T.A. Тухфатуллин, Алматинский филиал НИЯУ МИФИ, Алматы, Казахстан

    автор корреспондент, ғылым кандидаты, доцент, Ұлттық ядролық зерттеу университеті МИФИ Алматы қаласындағы филиалы, Алматы, Қазақстан, e-mail: tta@tpu.ru

  • Е.Л. Бойцова, Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия

    PhD, National Research Tomsk Polytechnic University, Tomsk, Russian Federation, e-mail: boi55@tpu.ru

  • М.М. Каверина , НАО «Торайгыров университет», Павлодар, Казахстан

    Докторант, Университет Торайгырова, Павлодар, Казахстан, e-mail: k.ma96@mail.ru

Жүктеулер

Жарияланды

2024-09-20

Журналдың саны

Бөлім

Condensed Matter Physics and Materials Science Problems. NanoScience

Осы автордың (немесе авторлардың) ең көп оқылатын мақалалары