ЧАСТОТА СТОЛКНОВЕНИЙ И ДЛИНА СВОБОДНОГО ПРОБЕГА ЭЛЕКТРОНОВ ЧАСТИЧНО-ИОНИЗОВАННОЙ ВОДОРОДНОЙ ПЛАЗМЫ. ЖАРТЫЛАЙ ИОНДАЛҒАН СУТЕКТІ ПЛАЗМАДҒЫ ЭЛЕКТРОНДАРДЫҢ СОҚТЫҒЫСУ ЖИІЛІГІ МЕН ЕРКІН ЕРКІН ЖҮРУ ҰЗЫНДЫҒЫ - Ramazanov, T. S.; Turekhanova, K. M. (Хабаршы. Физика сериясы, 2009)
Исследовано явление убегания электронов частично-ионизованной водородной плотной плазмы. Определены зависимости частоты столкновений и длины свободного пробега электронов от параметров связи и плотности частиц плазмы на основе моделей неидеальной классической и квазиклассической плазмы. Показано, что для определенных интервалов параметра связи плазмы различие в значении частоты столкновений и длины свободного пробега электронов для моделей плазмы существенны. Сыртқы электр өрісіндегі идеал емес плазма электрондарының «зымырау» құбылысы зерттелген. Электрондардың еркін жүру ұзындығының плазма тығыздығына жəне байланыс параметріне тəуелділіктері алынған. Классикалық жəне квазиклассикалық идеал емес плазма модельдері үшін зымырағыш электрондардың салыстырмалы сандары есептелген.