Жоғары энергиялы ауыр иондармен сәулеленген Si3N4 және AlN механикалық кернеулерді пьезоспектроскопиялық талдау - Zhumazhanova, A.; Giniyatova, Sh.; Mutali, A.; Ibrayeva, A.; Skuratov, V.; Dauletbekova, A.; Korneeva, E.; Akilbekov, A.; Zdorovets, M. (Хабаршы. Физика сериясы, 2022)
Кеңістіктік ажыратылымдылығы бар Рамандық пьезоспектроскопия әдістері 1 × 1012, 2 × 1012 және 1 × 1013 см-2 флюенске дейін энергиясы 710 МэВ жоғары энергиялы висмут иондарымен сәулеленген бұл жұмысьа поликристалды кремний мен алюминий нитридтеріндегі қалдық механикалық кернеулердің профильдерін зерттеу үшін пайдаланылды. Сәулеленген Si3 N4 қабатында трек аудандарының бірнеше рет қабаттасуы есебінен иондардың жоғары флюенсі кезінде аморфизацияланған үлгі қабатының қалыңдығына сәйкес келетін тереңдікте орналасқан тректік аймақпен бөлінген түрлі белгілердің кернеу өрістері қалыптасатыны зерттеу нәтижесінде анықталды. Үлкен тереңдікте созылу кернеулері тіркелетіні көрсетілді, олардың деңгейі иондар жүгірісінің соңындағы аймақтағы максималды мәнге жететіні анықталды. Si3 N4 - тен айырмашылығы, AlN - дегі механикалық кернеулердің радиациялық - ынталандырылған өзгеру деңгейі беттік аймақты қоспағанда, сәулеленген қабаттың бүкіл қалыңдығы бойынша өлшеу қатесінің шегінде болды. Байқалатын әсер кремний мен алюминий нитридтерінің жоғары тығыздықтағы ионизация әсеріне әртүрлі құрылымдық сезімталдығымен – Si3 N4 - те аморфты латентті тректердің түзілуімен және олардың AlN-де болмауымен байланысты деген қортынды жасалды.