Атомдық күшті микроскопия әдістері арқылы түрлі беттердің физикалық ерекшеліктерін зерттеу - Усеинов, Б.М.; Маркова, А.Г.; Самуткин, Я.Р.; Солодовник, А.А.; Касимова, С.А. (Хабаршы. Физика сериясы, 2025)
Сканерлеуші зондтық микроскоптар оптикалық микроскоптар қазірдің өзінде қуатсыз өлшемді аймақтардағы бет құрылымы туралы ақпаратты алудың жетілдірілген құралы болып табылады. Бұл ұсынылған жұмыстың мақсаты сканерлеуші зондты микроскоптың көмегімен әртүрлі материалдардың беттерінің физикалық сипаттамаларын зерттеу болып табылады. Келесі гипотезаны қарастыруға болады: микро- және нанодеңгейдегі материал бетінің физикалық құрылымы және беттің физикалық сипаттамалары мен жанасу бұрышы арасындағы байланыстың болуы туралы ақпарат алуға болады. Жұмыста қолданылатын әдіс-тәсілдер: сканерлеуші зонд микроскопында атомдық-күштік микроскопия әдістерін қолдана отырып беттердің кескіндерін алу, Nova Px бағдарламасында кескіндерді бағдарламалық өңдеу және талдау. Зерттеу нәтижелері бетінің кедір-бұдыры және сумен әрекеттесу қасиеттері туралы ақпарат түрінде берілген. Байланыс бұрышын талдау қымбат жабдық болмаған кезде бетінің күйін және оның кедір-бұдырлығын бағалауға мүмкіндік береді. Сондай-ақ, зерттеу барысында әртүрлі үлгілер талданды, соның ішінде биологиялық және табиғи нысандар. Профиль биіктігінің толық мәні мен жанасу бұрышы арасында 0,71 корреляция коэффициенті анықталды, бұл олардың байланысын көрсетеді.