Выделение сигнала из шума при исследовании спектров наноразмерных структур - Fedosimova, A.I.; Baitimbetova, B.A.; Dmitrieva, E.A.; Kudryashov, V.; Lebedev, I.A.; Mukashev, B.N.; Ryabikin, Yu.A.; Temiraliev, A.T. (Recent Contributions to Physics, 2020)
Представлен способ повышения точности измерений спектров наноразмерных структур,  исследования которых затруднены ввиду низкого отношения сигнал/шум и как следствие низкой чувствительности научной аппаратуры. Способ основан на накоплении сигнала вдоль спектра. При этом происходит уменьшение шума вследствие его хаотической природы. Метод применен для анализа тонких пленок диоксида олова SnO2, нанесенных на стеклянную подложку. Исследуемые образцы изготовлены на основе золь-гель технологии. Анализируемые спектры получены на рентгеновском дифрактометре ДРОН-6, предназначенном для исследования состава и структуры материалов. Стандартный анализ кристаллографических плоскостей исследуемых образцов практически невозможен из-за высокого уровня шума и негативного влияния фонового сигнала от стеклянной подложки. Анализ на основе предлагаемого подхода был выполнен в следующей последовательности действий: измерение спектра пустой подложки; накопление фонового сигнала от подложки вдоль спектра; измерение спектра от подложки с нанообъектами; вычитание накопленного фонового сигнала от подложки; накопление сигнала от нанообъектов вдоль спектра. При анализе происходит корректное вычитание фонового сигнала от подложки и увеличение отношения сигнал/шум полезного сигнала в (2a+1)^1/2 раз,  где a – ширина накопления.
Keywords: Диоксид олова, тонкие пленки, отношение сигнал/шум, накопление спектра, подавление шума