Aimaganbetov K, Tokmoldin N. Релаксационды спектроскопия әдісімен кремнилі диодтың терең деңгейлі параметрлерін зерттеу. Rec.Contr.Phys. 2017;2017(3):100-105. просмотрено июль 5, 2026. https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/571