AIMAGANBETOV, K.; TOKMOLDIN, N. Релаксационды спектроскопия әдісімен кремнилі диодтың терең деңгейлі параметрлерін зерттеу. Вестник. Серия физическая, v. 62, n. 3, p. 100–105, 25 сен.2017.