[1]
K. Aimaganbetov и N. Tokmoldin, «Релаксационды спектроскопия әдісімен кремнилі диодтың терең деңгейлі параметрлерін зерттеу», Rec.Contr.Phys., т. 2017, вып. 3, сс. 100–105, сен. 2017, просмотрено: 14 июль 2026 г. [онлайн]. доступно на: https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/571