[1]
G. Yar-Mukhamedova и R. Atchibaev, «Оптикалық металлография әдісімен Cr-SiO2-С нанокопозициялық электролиттік қаптамалардың микроқұрылымына коррозия әсерін зерттеу», Rec.Contr.Phys., т. 2012, вып. 4, сс. 36–38, сен. 2018, просмотрено: 13 июль 2026 г. [онлайн]. доступно на: https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/723