[1]
G. Yar-Mukhamedova и R. Atchibaev, «Оптикалық металлография әдісімен Cr-SiO2-С нанокопозициялық электролиттік қаптамалардың микроқұрылымына коррозия әсерін зерттеу», Rec.Contr.Phys., т. 43, вып. 4, сс. 36–38, сен. 2018, просмотрено: сен. 25, 2026. доступно на: https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/723