[1]
Б. Усеинов, А. Маркова, Я. Самуткин, А. Солодовник, и С. Касимова, «Исследование физических особенностей различных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии», Rec.Contr.Phys., т. 93, вып. 2, сс. 52–59, июн. 2025, doi: 10.26577/RCPh20259326.