Влияние разности прикладываемых потенциалов на структурные особенности CoCdSe тонких пленок

Авторы

  • A. Omarova Евразийский национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Казахстан, г.Нур-Султан http://orcid.org/0000-0002-7891-5425
  • A.L. Kozlovskiy Евразийский национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Казахстан, г.Нур-Султан; Институт ядерной физики МЭ РК, Казахстан, г.Алматы http://orcid.org/0000-0001-8832-7443
  • I.E. Kenzhina Евразийский национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Казахстан, г.Нур-Султан; Институт ядерной физики МЭ РК, Казахстан, г.Алматы http://orcid.org/0000-0002-9397-5848
  • K.K. Kadyrzhanov Евразийский национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Казахстан, г.Нур-Султан; Институт ядерной физики МЭ РК, Казахстан, г.Алматы http://orcid.org/0000-0002-8796-0316
  • E.Yu. Kanyukov НПЦ НАН Беларуси по материаловедению, Беларусь, г.Минск http://orcid.org/0000-0003-1862-2310

DOI:

https://doi.org/10.26577/RCPh.2020.v73.i2.07

Ключевые слова:

тонкие пленки, допирование, структурные характеристики, электрохимический синтез, полупроводники

Аннотация

Одними из перспективных материалов на сегодняшний день в области полупроводников являются структуры на основе кадмия, селена, теллура и их соединений, имеющих один структурный тип AIIBVI, интерес к которым обусловлен возможностью их применения в различных фотоэлектронных устройствах, солнечных элементах, светодиодах, катализаторах и т.д. Данная работа посвящена изучению свойств тонких пленок на основе CoCdSe. В качестве метода синтеза использовался метод электрохимического осаждения, который позволяет с высокой точностью получать тонкие пленки с заданными параметрами. Получены результаты влияния разности прикладываемых потенциалов на структурные особенности CoCdSe тонких пленок. В качестве подложек для получения тонких пленок использовались полимерные пленки полиэтилентерефталата, обладающие хорошими адгезионными свойствами, позволяющими получать равномерные по высоте и составу тонкие пленки. Установлено, что изменение разности прикладываемых потенциалов приводит не только к изменению толщины тонких пленок при заданном временном интервале синтеза, но и изменять стехиометрический и фазовый состав тонких пленок. С применением метода рентгенофазового состава установлено, что увеличение разности прикладываемых потенциалов приводит к увеличению фазы CoSe, а также структурным упорядочениям и снижению дислокационной плотности дефектов в пленках.

Библиографические ссылки

1 S. Thanikaikarasan et al., Materials Today: Proceedings, 21, 73-77 (2020).

2 S. Ramezan, M. Rezaei Roknabadi, M. Behdani, Optik, 164204 (2020).

3 W. Taowen, et al., Journal of Alloys and Compounds, 828, 154415 (2020).

4 Hassen Mohamed, et al., Surfaces and Interfaces, 18, 100408 (2020).

5 S.V. Shornikova et al., Nano Letters, 20.2, 1370-1377 (2020).

6 E.A. Slejko, L. Cozzarini, and V. Lughi, Nano-Structures & Nano-Objects, 22, 100432 (2020).

7 S. Ramezan, M. Rezaei Roknabadi, and M. Behdani, Materials Research Express, 6.12, 126453 (2020).

8 G.T. Chavan, et al., Applied Surface Science, 426, 466-479 (2017).

9 Li Changlin, et al., International Journal of Hydrogen Energy, 45.15, 8257-8272 (2020).

10 S.L. Patel, et al., Current Applied Physics, 18.7, 803-809 (2018).

11 Raut Vanita S., Chandrakant D. Lokhande, and Vilas V. Killedar, Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 28.4, 3140-3150 (2017).

12 H. Bayramoglu, and A. Peksoz, Materials Science in Semiconductor Processing, 90, 13-19 (2019).

13 S. Thanikaikarasan and J. Venkatamuthukumar, J. of Materials Science: Materials in Electronics, 30.2, 1500-1509 (2019).

14 Choudhary Ritika, and R.P. Chauhan, Journal. of Materials Science: Materials in Electronics, 29.15, 12595-12602 (2018).

15 A. Castelli, et al., Advanced Optical Materials, 8.1, 1901463 (2020).

16 Rose IR Celine, and A. Jeya Rajendran. Optik, 155, 63-73 (2018).

17 S.A. Gangawane, V. P. Malekar, and V. J. Fulari, Materials Today: Proceedings, 23, 276-283 (2020).

Загрузки

Опубликован

2020-06-24

Выпуск

Раздел

Физика конденсированного состояния и проблемы материаловедения. Нанонаука

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)