Расчет ионизационных потерь энергии космических лучей в наноструктурах графена
DOI:
https://doi.org/10.26577/RCPh.2024v90i3-011Ключевые слова:
космических лучи, ионизационные потери энергии, каналированиеАннотация
В настоящее время в Республике Казахстан в рамках стратегических направлений космической отрасли развиваются фундаментальные и прикладные научные космические исследования, а также решаются практические задачи с использованием космических технологи. В данных исследованиях особое внимание уделяется вопросам надежности бортовой аппаратуры в условиях комплексного воздействия факторов космического пространства.
При разработке и проектировании таких работ, как стыковка и сборка элементов орбитальных станций, дистанционное управление автоматическими межпланетными станциями и многие другие, используется математическое и компьютерное моделирование, которое является высокоэффективным и относительно низкозатратным методом.
Цель данной работы - исследование зависимости потерь энергии релятивистских ионов космического излучения при прохождении частиц через наноструктуры графена с целью прогнозирования их радиационной стойкости при воздействии частиц космического излучения.
В работе выполнено моделирование траекторий и потерь энергии релятивистских ионов при прохождении через кристаллы графита. Получены численные значения критических углов каналирования в кристалле графита. Показано, что потери энергии иона не зависят от точки влета иона в кристалл и резко возрастают с уменьшением энергии в диапазоне энергий менее 1000 МэВ/нуклон.
