Cr-SiO2-С наноқұрылымдық композициялық электролиттік қаптамалардың атомдық-күштік микроскопиялық зерттемесі
Ключевые слова:
композитті электролиттік қаптамалары, нано-өлшемді бөлшектер, электролит, атомдық күштік микроскопАннотация
Aтомдық күштік микроскоптық әдістермен 3% NaCl ерітіндісінде нано-КЭҚ микроқұрылымдарындағы өзгерістердің жемірілуге дейінгі және кейінгі сынау жұмыстарының нәтижелері келтірілген. Барлық зерттеулер үшін 333-343К температура аралығында алынған нано-КЭҚ-лар ең жоғары жемірілуге бекемділік қәсиетке ие екендігі орнатылды.
Загрузки
Опубликован
20.12.2012
Выпуск
Раздел
Физика конденсированного состояния и проблемы материаловедения. Нанонаука
Как цитировать
[1]
G. Yar-Mukhamedova и R. Aitbaev, «Cr-SiO2-С наноқұрылымдық композициялық электролиттік қаптамалардың атомдық-күштік микроскопиялық зерттемесі», Rec.Contr.Phys., т. 2012, вып. 4, сс. 20–23, дек. 2012, просмотрено: 12 июль 2026 г. [онлайн]. доступно на: https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/719
