Cr-SiO2-С наноқұрылымдық композициялық электролиттік қаптамалардың атомдық-күштік микроскопиялық зерттемесі

Авторы

  • G.S. Yar-Mukhamedova Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан
  • R.A. Aitbaev Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан

Ключевые слова:

композитті электролиттік қаптамалары, нано-өлшемді бөлшектер, электролит, атомдық күштік микроскоп

Аннотация

Aтомдық күштік микроскоптық әдістермен 3% NaCl ерітіндісінде нано-КЭҚ микроқұрылымдарындағы өзгерістердің жемірілуге дейінгі және кейінгі сынау жұмыстарының нәтижелері келтірілген. Барлық зерттеулер үшін 333-343К температура аралығында алынған нано-КЭҚ-лар ең жоғары жемірілуге бекемділік қәсиетке ие екендігі орнатылды.

Загрузки

Опубликован

20.12.2012

Выпуск

Том 2012 № 4 (2012): Вестник КазНУ. Серия физическая

Раздел

Физика конденсированного состояния и проблемы материаловедения. Нанонаука

Как цитировать

Cr-SiO2-С наноқұрылымдық композициялық электролиттік қаптамалардың атомдық-күштік микроскопиялық зерттемесі. (2012). Recent Contributions to Physics, 2012(4), 20-23. https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/719

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)