Электрондық микроскопия әдісімен Сr-SiO2-C нанокомпазициялық электролиттік қаптамалардың микроструктурасына коррозия әсерін зерттеу

Авторы

  • G.S. Yar-Mukhamedova Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан
  • E.G. Shaikov Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан
        53 44

Ключевые слова:

композитті электролиттік қаптамалары, нано-өлшемді бөлшектер, электролит, Электрондық микроскоп

Аннотация

Электрондық микроскоптық әдістермен 3% NaCl ерітіндісінде нано-КЭҚ микроқұрылымдарындағы өзгерістердің жемірілуге дейінгі және кейінгі сынау жұмыстарының нәтижелері келтірілген. Барлық зерттеулер үшін 333-343К температура аралығында  алынған нано-КЭҚ-лар ең жоғары жемірілуге бекемділік қәсиетке ие екендігі орнатылды.

Библиографические ссылки

1. Arenas M.A., de Frutos A., Liu Y. and other “Surface and Coating Tehnology” , 202 (16), may 2008.- P.3797.

2. Кузенков Ю.А., Олейник С.В. «Коррозия: материалы, защита» - 2009.- №4.-С.36.

3. Чукубаева А.Ж., Айдарбекова Р.Ы., Яр-Мухамедова Г.Ш. Обзор современного состояния получения композиционных электролитических покрытий (КЭП) // Сб.науч.трудов КазНТУ. – Алматы, 2004. – Т.2. – С.412-414.

Загрузки

Как цитировать

Yar-Mukhamedova, G., & Shaikov, E. (2012). Электрондық микроскопия әдісімен Сr-SiO2-C нанокомпазициялық электролиттік қаптамалардың микроструктурасына коррозия әсерін зерттеу. Вестник. Серия Физическая (ВКФ), 43(4), 24–27. извлечено от https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/720

Выпуск

Том 43 № 4 (2012): Вестник КазНУ. Серия физическая

Раздел

Физика конденсированного состояния и проблемы материаловедения. Нанонаука