Электрондық микроскопия әдісімен Сr-SiO2-C нанокомпазициялық электролиттік қаптамалардың микроструктурасына коррозия әсерін зерттеу

Авторы

  • G.S. Yar-Mukhamedova Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан
  • E.G. Shaikov Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан

Ключевые слова:

композитті электролиттік қаптамалары, нано-өлшемді бөлшектер, электролит, Электрондық микроскоп

Аннотация

Электрондық микроскоптық әдістермен 3% NaCl ерітіндісінде нано-КЭҚ микроқұрылымдарындағы өзгерістердің жемірілуге дейінгі және кейінгі сынау жұмыстарының нәтижелері келтірілген. Барлық зерттеулер үшін 333-343К температура аралығында  алынған нано-КЭҚ-лар ең жоғары жемірілуге бекемділік қәсиетке ие екендігі орнатылды.

Опубликован

20.12.2012

Выпуск

Раздел

Физика конденсированного состояния и проблемы материаловедения. Нанонаука

Как цитировать

[1]
G. Yar-Mukhamedova и E. Shaikov, «Электрондық микроскопия әдісімен Сr-SiO2-C нанокомпазициялық электролиттік қаптамалардың микроструктурасына коррозия әсерін зерттеу», Rec.Contr.Phys., т. 2012, вып. 4, сс. 24–27, дек. 2012, просмотрено: 14 июль 2026 г. [онлайн]. доступно на: https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/720

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)