Оптикалық металлография әдісімен Cr-SiO2-С нанокопозициялық электролиттік қаптамалардың микроқұрылымына коррозия әсерін зерттеу

Авторы

  • G.S. Yar-Mukhamedova Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан
  • R.A. Atchibaev Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан

Ключевые слова:

композитті электролиттік қаптамалары, нано-өлшемді бөлшектер, электролит, металлография

Аннотация

Оптикалық микроскопия және растырлық электрондық микроскоптық әдістермен 3% NaCl ерітіндісінде нано-КЭҚ микроқұрылымдарындағы өзгерістердің жемірілуге дейінгі және кейінгі сынау жұмыстарының нәтижелері келтірілген. Барлық зерттеулер үшін 333-343К температура аралығында алынған нано-КЭҚ-лар ең жоғары жемірілуге бекемділік қәсиетке ие екендігі орнатылды.

Опубликован

10.09.2018

Выпуск

Раздел

Физика конденсированного состояния и проблемы материаловедения. Нанонаука

Как цитировать

Оптикалық металлография әдісімен Cr-SiO2-С нанокопозициялық электролиттік қаптамалардың микроқұрылымына коррозия әсерін зерттеу. (2018). Recent Contributions to Physics, 2012(4), 36-38. https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/723

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)