Выделение сигнала из шума при исследовании спектров наноразмерных структур

A.I. Fedosimova; B.A. Baitimbetova; E.A. Dmitrieva; V. Kudryashov; I.A. Lebedev; B.N. Mukashev; Yu.A. Ryabikin; A.T. Temiraliev

doi:10.26577/RCPh.2020.v72.i1.08

Авторлар

A.I. Fedosimova Институт ядерной физики, Физико-технический институт, Satbaev University, Казахстан, г. Алматы
B.A. Baitimbetova Физико-технический институт, Satbaev University, Казахстан, г.Алматы
E.A. Dmitrieva Физико-технический институт, Satbaev University, Казахстан, г.Алматы
V. Kudryashov Физико-технический институт, Satbaev University, Казахстан, г.Алматы
I.A. Lebedev Физико-технический институт, Satbaev University, Казахстан, г.Алматы
B.N. Mukashev Физико-технический институт, Satbaev University, Казахстан, г.Алматы
Yu.A. Ryabikin Физико-технический институт, Satbaev University, Казахстан, г.Алматы
A.T. Temiraliev Физико-технический институт, Satbaev University, Казахстан, г.Алматы

##doi.readerDisplayName##:

10.26577/RCPh.2020.v72.i1.08

Кілт сөздер:

Tin dioxide, thin films, signal to noise ratio, spectrum accumulation, noise suppression.

Аңдатпа

Ғылыми жабдықтардың төмен сезімталдығына және соның салдарынан зерттеу жұмыстары сигналдардың шуылға қатынасының төмендігіне байланысты қиын болатындықтан наноөлшемді құрылымды спектрлердің өлшеу дәлдігін арттыру әдісі қсынылған. Бұл әдіс сигналдың спектр бойында жинақталуына негізделген. Бұл жағдайда шу өзінің хаотикалық сипатына байланысты азаяды. Бұл әдіс шыны төсеніш бетіне түзілген SnO₂ қалайы диоксидінің жұқа қабықтарын талдау үшін осы қолданылды. Зерттелініп отырған үлгілер зол-гель технологиясы негізінде жасалады. Талдап отырған спектрлер материалдардың құрамы мен құрылымын зерттеуге арналған DRON-6 рентген дифрактометрінде алынды. Зерттеліп отырған үлгілердің кристаллографиялық жазықтықтарын стандартты талдау іс жүзінде мүмкін емес, өйткені шу деңгейі жоғары және фондық сигнал шыны төсенішке теріс әсер етеді. Ұсынылған тәсілге негізделген талдау келесі әрекеттер тізбегінде жүргізілді: бос төсеніштің спектрін өлшеу; спектр бойымен төсеніштен фондық сигналдың жинақталуы; төсеніштен нано-объектілермен спектрді өлшеу; жинақталған фондық сигналды төсеніштен алу; спектр бойымен нано-объектілерден сигналдың жинақталуы. Талдау барысында фондық сигналды төсеніштен дұрыс шығарады және пайдалы сигналдың SnO₂шу-шу қатынасын есе арттырады, мұндағы а - жинақтау ені.