КОМПЛЕКС ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ С НАНОМЕТРОВЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ. ҚАТТЫ ДЕНЕЛІ МАТЕРИАЛДЫРДЫ КҮЙРЕТПЕЙ НАНОМЕТІРЛІК АЙЫРУ ҚАБІЛЕТІМЕН ҚАРАПАЙЫМ ТАЛДАЙТЫН ЖИЫНТЫҒЫ
Кілт сөздер:
ионАңдатпа
Разработан измерительный комплекс для элементного анализа материалов, позволяющий регистрировать спектры резерфордовского обратного рассеяния легких ионов с энергетическим разрешением 1,3 %, что соответствует минимальной толщине регистрируемого слоя 1–1,5 нм. Основным элементом комплекса является цилиндрический электростатический анализатор ионов с неоднородным полем. 1–1,5 нм ең аз тізімдеу қалыңдығына сəйкес келетін қатты денелі материалдырды 1,3% энергетикалық қабілетімен резерфорд қайта шашыранды жеңіл иондар спектірін тіркейтін элементтік талдайтын өлшеу жиынтығы жасап шығарылды. Комплекстін негізгі элементі бір текті емес өрісті жұмыр электростатиқалық ион анализаторы.Жүктеулер
Журналдың саны
Бөлім
Plasma Physics
Дәйексөзді қалай келтіруге болады
КОМПЛЕКС ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ С НАНОМЕТРОВЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ. ҚАТТЫ ДЕНЕЛІ МАТЕРИАЛДЫРДЫ КҮЙРЕТПЕЙ НАНОМЕТІРЛІК АЙЫРУ ҚАБІЛЕТІМЕН ҚАРАПАЙЫМ ТАЛДАЙТЫН ЖИЫНТЫҒЫ. (2009). Хабаршы. Физика сериясы, 2009(3), 81-85. https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/212
