ИК-спектрометрический метод регистрации структурно-фазовых превращений в тонких пленках криовакуумных конденсатов

Авторы

  • A.K. Shinbayeva НИИЭТФ, Казахский национальный университет имени аль-Фараби, Казахстан, Алматы
  • A.U. Aldiyarov НИИЭТФ, Казахский национальный университет имени аль-Фараби, Казахстан, Алматы
  • A.S. Drobyshev НИИЭТФ, Казахский национальный университет имени аль-Фараби, Казахстан, Алматы
  • A.E. Nurmukan НИИЭТФ, Казахский национальный университет имени аль-Фараби, Казахстан, Алматы

Ключевые слова:

криовакуумные конденсаты, ИК спектры, методика

Аннотация

Описан метод регистрации структурно-фазовых превращений в криовакуумных конденсатах газов. Метод основан на ИК-спектрометрических измерениях в сочетании с получением термограмм на фиксированной частоте наблюдения. Образец конденсируется при заданной температуре. Далее, на основании ранее полученных дискретных по температуре спектральных измерений определяется значение частоты, наиболее чувствительной к изменениям характера и положения полосы поглощения. После этого значение спектрометра устанавливается на одной из частот наблюдения и начинается непрерывный нагрев образца вплоть до его испарения с одновременным измерением сигнала спектрометра. На основании полученных термограмм определяются температурные интервалы, в которых осуществляются трансформации спектров поглощения. Используя данные прямых структурных измерений других авторов делаются выводы относительно термостимулированных структурных превращений в исследуемом образце.

Загрузки

Опубликован

24.03.2018

Выпуск

Раздел

Физика конденсированного состояния и проблемы материаловедения. Нанонаука

Как цитировать

ИК-спектрометрический метод регистрации структурно-фазовых превращений в тонких пленках криовакуумных конденсатов. (2018). Recent Contributions to Physics, 2018(1), 48-53. https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/621

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)

1 2 > >>