Влияние разности прикладываемых потенциалов на структурные особенности CoCdSe тонких пленок

Авторлар

  • A. Omarova Евразийский национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Казахстан, г.Нур-Султан http://orcid.org/0000-0002-7891-5425
  • A.L. Kozlovskiy Евразийский национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Казахстан, г.Нур-Султан; Институт ядерной физики МЭ РК, Казахстан, г.Алматы http://orcid.org/0000-0001-8832-7443
  • I.E. Kenzhina Евразийский национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Казахстан, г.Нур-Султан; Институт ядерной физики МЭ РК, Казахстан, г.Алматы http://orcid.org/0000-0002-9397-5848
  • K.K. Kadyrzhanov Евразийский национальный университет им. Л.Н. Гумилева, Казахстан, г.Нур-Султан; Институт ядерной физики МЭ РК, Казахстан, г.Алматы http://orcid.org/0000-0002-8796-0316
  • E.Yu. Kanyukov НПЦ НАН Беларуси по материаловедению, Беларусь, г.Минск http://orcid.org/0000-0003-1862-2310

DOI:

10.26577/RCPh.2020.v73.i2.07

Кілт сөздер:

тонкие пленки, допирование, структурные характеристики, электрохимический синтез, полупроводники

Аңдатпа

Одними из перспективных материалов на сегодняшний день в области полупроводников являются структуры на основе кадмия, селена, теллура и их соединений, имеющих один структурный тип AIIBVI, интерес к которым обусловлен возможностью их применения в различных фотоэлектронных устройствах, солнечных элементах, светодиодах, катализаторах и т.д. Данная работа посвящена изучению свойств тонких пленок на основе CoCdSe. В качестве метода синтеза использовался метод электрохимического осаждения, который позволяет с высокой точностью получать тонкие пленки с заданными параметрами. Получены результаты влияния разности прикладываемых потенциалов на структурные особенности CoCdSe тонких пленок. В качестве подложек для получения тонких пленок использовались полимерные пленки полиэтилентерефталата, обладающие хорошими адгезионными свойствами, позволяющими получать равномерные по высоте и составу тонкие пленки. Установлено, что изменение разности прикладываемых потенциалов приводит не только к изменению толщины тонких пленок при заданном временном интервале синтеза, но и изменять стехиометрический и фазовый состав тонких пленок. С применением метода рентгенофазового состава установлено, что увеличение разности прикладываемых потенциалов приводит к увеличению фазы CoSe, а также структурным упорядочениям и снижению дислокационной плотности дефектов в пленках.

Жүктеулер

Жарияланды

2020-06-24

Журналдың саны

Бөлім

Condensed Matter Physics and Materials Science Problems. NanoScience

Осы автордың (немесе авторлардың) ең көп оқылатын мақалалары