Полиимидті композитті материалының оптикалық қасиетіне SiO толықтырғышының әсері
Ключевые слова:
полиимидті композит қабыршақ, SiO толықтырғыш, атомды-күштік микроскопия, спектрофотометрияАннотация
Атомдық күштік микроскопия әдісімен полиимидтің және «Полиимид – SiO толықтырғыш» жүйесінің беттік морфологиясы зерттелінді. Матрицаға әртүрлі концентрациялы SiO ұсақ дисперсті толықтырғыштар енгізу нәтижесінде полиимидті композит материалының оптикалық қасиетінің өзгерісі анықталынды. λ ~ 450 нм мәнінде жарық өткізу коэффициентінің өте тез көтерілуі байқалады және ультракүлгін диапазонда (λ < 300 нм) шыңдардың төмендеуімен қатар өткізу шекараларының ығысуы байқалады. Бұл құбылыстар полиимид қабыршақтың оптикалық орталықтың әсерінен болатын ішкі қайта құрылуға байланысты. 1 сал.% және 2 сал.% концентрацияда SiO толтырғышты ендіру композитті материалдың жарық өткізу коэффициентінің айтарлықтай өзгерісіне алып келмейді, ал 5 сал.% концентрацияда ендіру жарық өткізу коэффициентінің мәнін 15% жоғарылатады.
Библиографические ссылки
2 Vladimir N. Popok. Ion Implantation of Polymers: Formation of Nanoparticulate Materials. // Rev. Adv. Mater. Sci.,2012. – V.30. – P. 1–26.
3 Laius L.A., Dergacheva E.N., Zhukova T.J. Polyimides, chemistry and characterization / Eds C. Feger, M.M. Khojasten, J.E. McGrath. Elsevier, Amsterdam, 1989. – 389 p.
4 Kryzhanovskiy V.K., Burlov V.V., Panimatchenko A.D., Kryzhanovskaya Yu.V.. Tekhnicheskiye svoystva polimernykh materialov. / SPb: Professiya, 2005 – 248 s .Lehmani A., Durand-Vidal S., Turg P. Surface Morphology of Nafion 117 Membrane by Tapping Mode Atomic Force Microscope // J. Appl. Polym. Sci. 1998. – V. 68. – P. 503–508.
5 Zaychenko N.A., Vasil’yeva V.I., Grigochuk O.V. i dr. Analiz sherokhovatosti poverkhnosti ionoobmennykh membran metodom atomno – silovoy mikroskopii / / Vestnik Voronezhskogo Gosudarstvennogo universiteta. Seriya: Khimiya. Biologiya. Farmatsiya. – 2009. – № 1. – S. 5–14.
