Cr-SiO2-С  наноқұрылымдық композициялық электролиттік қаптамалардың атомдық-күштік микроскопиялық зерттемесі

G.S. Yar-Mukhamedova; R.A. Aitbaev

Cr-SiO2-С наноқұрылымдық композициялық электролиттік қаптамалардың атомдық-күштік микроскопиялық зерттемесі

Авторы

G.S. Yar-Mukhamedova Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан
R.A. Aitbaev Әл-Фараби атындағы Қазақ Ұлттық университетi Алматы қ., Қазақстан

90 39

Ключевые слова:

композитті электролиттік қаптамалары, нано-өлшемді бөлшектер, электролит, атомдық күштік микроскоп

Аннотация

Aтомдық күштік микроскоптық әдістермен 3% NaCl ерітіндісінде нано-КЭҚ микроқұрылымдарындағы өзгерістердің жемірілуге дейінгі және кейінгі сынау жұмыстарының нәтижелері келтірілген. Барлық зерттеулер үшін 333-343К температура аралығында алынған нано-КЭҚ-лар ең жоғары жемірілуге бекемділік қәсиетке ие екендігі орнатылды.

Библиографические ссылки

1. Жук Н.П. Курс теории коррозии и защиты металлов. – М.: Металлургия, 1976.

2. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. – М.: Мир, 2004.

3. Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии . – М.: Мир, 1966. - С.472.

Загрузки

pdf ()

Как цитировать

Yar-Mukhamedova, G., & Aitbaev, R. (2012). Cr-SiO2-С наноқұрылымдық композициялық электролиттік қаптамалардың атомдық-күштік микроскопиялық зерттемесі. Recent Contributions to Physics, 2012(4), 20–23. извлечено от https://bph.kaznu.kz/index.php/zhuzhu/article/view/719