Дөңгелек өткізгіш цилиндр негізіндегі антирезонанстық квадрупольдік жүйе
DOI:
https://doi.org/10.26577/RCPh.2023.v87.i4.03Кілттік сөздер:
Квадруполь, масс-спектрометр, потенциал, электр өрісі, магнит өрісі, иондық тұзақАннотация
Жақсартылған аналитикалық мүмкіндіктері бар құрылғыларды жобалауға және есептеуге мүмкіндік беретін дұрыс физикалық және математикалық теорияларға негізделген масс-спектрометрлердің физикалық және аспаптық сипаттамаларын есептеу әдістерін әзірлеу корпускулалық оптика мен ғылыми аспап жасаудың өзекті міндеті болып табылады. Қазіргі уақытта квадрупольді электростатикалық жүйелер кең таралған. Бұл, ең алдымен, квадрупольді линзалар, квадрупольді аберрация түзеткіштері, квадрупольді тұзақтар және квадрупольді масс-спектрометрлер. Квадрупольді масса анализаторы антирезонансты масс-спектрометрлер деп аталады, онда иондардың бір бөлігі иондар шоғыры электр өрісі арқылы қозғалғанда, тұрақты және уақыт бойынша өзгеретін компоненті бар, тербеліс амплитудасы шектеулі өрістен өтеді, ал иондардың басқа бөлігінің тербеліс амплитудасы уақыт өте келе шексіз артады және олар шоқтан шығарылып қалады. Зарядталған бөлшектердің қозғалыс сипаты массаның зарядқа қатынасына байланысты болғандықтан, мұндай электр өрісі масса фильтрі ретінде жұмыс істей алады, яғни массаның зарядқа қатынасының белгілі бір мәні бар иондарды ғана өткізеді. Квадруполь өрістерін құру үшін әдетте электродтардың күрделі геометриясы бар квадрупольді жүйелер қолданылады, бұл олардың практикалық орындалуын қиындатады. Сондықтан өрістері аналитикалық сипатталуы мүмкін электродтардың қарапайым геометриясы бар квадрупольдік жүйелерді әзірлеу және зерттеу өте өзекті. Потенциал және оның туындылары үшін квадруполь өрісінің электростатикалық потенциалын дәл сипаттайтын қарапайым аналитикалық формуланы қолдана отырып, қосымша радиожиілік өрістерін қабаттастыру кезінде квадрупольді иондық тұзақтардың тұрақтылық аймақтарын дәл есептеуге болады.
Библиографиялық сілтемелер
D.Preikszas, H.Rose, Electron microscopy, 46, 1, 1–9 (1997).
M. Silady, Elektronnaya i ionnaya optika, (Moscow, Mir, 1990), 639 p. (in Russ).
P.W. Hawkes, J.C.H. Spence (Eds.), Springer Handbook of Microscopy, (Springer Nature Switzerland AG, 2019), 1543 р.
V. Paul, UFN, 12, 109-127 (1989). (in Russ).
D.J. Douglas, A.J. Frank, D.M. Mao, 24 (1), 1–29 (2005).
J.W. Hager, Rapid Commun. Mass Spectrom, 16, 512–526 (2002).
R.E. March, J.F. Todd, Quadrupole Ion Trap Mass Spectrometry, (John Wiley & Sons, 2005), 392 p.
H. Qiao, C. Gao, D. Mao, N. Konenkov, D.J. Douglas, Rapid Commun. Mass Spectrom, 25. 3509–3520 (2011).
J.M. Amini, J. Britton, D. Leibfried, D.J. Wineland, (WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. ´ KGaA, Weinheim, 2011).
D.J. Douglas, N.V. Konenkov, Euro. J. Mass Spectrom., 18, Р. 419–429 (2012).
D.J. Douglas, A.S. Berdnikov, N. V. Konenkov, Int. J. Mass Spectrom., 377, 345–354 (2015).
Yu.V. Rozhdestvensky, S.S. Rudy, ZhTF, 87 (4), 604-611 (2017). (in Russ.)
R.H. Dawson, Quadrupole Mass Spectrometry and its Application, (Aмsterdam, Elsevier, 1976).
D. Baumester, A. Eckert, A. Zeilinger, Fizika kvantovoy informatsii, (Moscow, Postmarket, 2002), 375 p. (in Russ.)
M.A. Lavrentiev, B.V. Shabat, Metody teorii funktsiy kompleksnogo peremennogo, (Moscow, Nauka, 1976), 716 p. (in Russ.)
I.F. Spivak-Lavrov, Advances in Imaging and Electron Physics, 193, 45-128 (2016).
I.F. Spivak-Lavrov, T.Zh. Shugaeva, S.U. Sharipov, Advances in Imaging and Electron Physics, 215, 181–193 (2020).
I.F. Spivak-Lavrov, T.Zh. Shugaeva, T.S. Kalimatov, International Journal of Mass Spectrometry 444, 116180 (2019).
